iEDX-100T固定臺(tái)鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域，鍍液金屬離子濃度分析等。

一、主要參數(shù)

1、多鍍層分析，1～5層

2、測(cè)試精度：0.001 μm

3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

4、測(cè)量時(shí)間：10~30秒

5、SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV

6、探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）

7、微焦X射線管50KV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）

8、6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換

9、下照式固定平臺(tái)，荷載為5公斤

10、高清CCD攝像頭，十字星準(zhǔn)確監(jiān)控位置

11、多變量非線性去卷積曲線擬合

12、高性能FP/MLSQ分析

13、儀器尺寸：450×520×385mm

14、樣品倉(cāng)尺寸：340*280*108mm

14、平臺(tái)移動(dòng)范圍：340×280×108mm

二、圖譜界面

1、軟件支持無標(biāo)樣分析

2、大分析平臺(tái)和樣品腔

3、集成了鍍層界面和合金成分分析界面

4、采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)

5、鍍層測(cè)厚分析精度可達(dá)到0.001μm

三、分析報(bào)告結(jié)果

1、直接打印分析報(bào)告
2、報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF，EXCEL格式

四、iEDX-100T固定臺(tái)鍍層測(cè)厚儀操作軟件

1、windows操作系統(tǒng)
2、中、英、韓文可切換操作界面

五、自動(dòng)進(jìn)樣器

可選擇12位進(jìn)樣品